安捷倫自動夾具移除選件成就業內最輕松、最快速的非同軸器件測量

來源:安捷倫    關鍵詞:   發布時間:2014-06-18

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    2014年 5 月 30 日,北京――安捷倫科技(NYSE:A)日前宣布推出最新強大的自動夾具移除(AFR)選件。該選件主要用于旗下的 PNA 系列網絡分析儀。早前,這項誤差校正技術僅在安捷倫物理層測試系統(PLTS)軟件中提供。自動夾具移除(AFR)選件能夠成就業界最輕松、最快速的非同軸器件精確測量,幫助工程師減少時間和資金的投入。

    如今,許多器件都沒有同軸連接器,只能通過夾具才能在同軸環境下進行測量。然而,要獲得完美的被測件測量結果,需要精確去除夾具效應。盡管可以通過 EM 電磁仿真軟件的建模,或者在基板上構建多個校準標準件來表征和去除夾具效應,但這些方法非常繁雜而且耗時。

    安捷倫最新的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、精確地去除非同軸器件測量環境中的夾具效應:工程師可以使用快捷的五步向導程序完成必要操作,然后將去嵌入文件保存為多種格式,以便日后在 PNA、PLTS 和先進設計系統軟件中使用。

使用 AFR 選件時,工程師必須首先對夾具輸入端的參考面進行同軸校準;然后再測量一個或多個標準件,將其作為夾具的 2 端口直通通道,或者充當開路或短路的半端接夾具。如果只使用單端口的 AFR,實施夾具去嵌入的過程可以更快。在被測件安裝之前先對實際夾具的測量作為開路狀態, 之后,AFR 選件會自動表征夾具,并將夾具效應從測量結果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。

    安捷倫元器件測試事業部營銷經理 Steve Scheppelmann 表示:“最新 AFR 選件的精度可與板上TRL校準相媲美,但實現起來更為輕松。對于不熟悉 AFR 的微波工程師,為了精確地校正夾具效應,他們完全不必再去執行復雜的 EM 仿真或構建板上校準套件。而對于熟練使用 AFR 的信號完整性工程師,他們也能受益于 AFR 選件的單端口功能,從而顯著節省測試時間。”

 

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